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泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 的測(cè)量原理是基于精密的機(jī)械傳感與數(shù)字化數(shù)據(jù)處理。具體如下：

機(jī)械傳感：儀器通過耐磨的金剛石測(cè)針和精密機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，帶動(dòng)測(cè)針沿被測(cè)表面水平等速滑行。當(dāng)測(cè)針劃過表面波峰和波谷時(shí)，會(huì)產(chǎn)生垂直位移，高靈敏度壓電傳感器捕捉該位移，并通過壓電效應(yīng)將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。

數(shù)字化處理：產(chǎn)生的電信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換等處理后變?yōu)閿?shù)字信號(hào)，傳輸至微處理器。微處理器依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)制定的算法（如 ISO 4287）對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行分析計(jì)算，得出表面粗糙度參數(shù)，最終在液晶顯示器上顯示測(cè)量結(jié)果，也可通過打印機(jī)輸出或與 PC 機(jī)通訊傳輸數(shù)據(jù)。

其常用的測(cè)量參數(shù)包括幅值參數(shù)、間距參數(shù)和混合參數(shù)，具體介紹如下：

幅值參數(shù)：用于描述表面偏差的垂直特征。如 Ra 是算術(shù)平均值偏差，反映輪廓的平均高度變化；Rz 為平均峰谷高度，體現(xiàn)了一定測(cè)量長(zhǎng)度內(nèi)峰谷高度的平均值；Rt 是輪廓總高度，指輪廓上高點(diǎn)到低點(diǎn)的距離。

間距參數(shù)：主要測(cè)量表面偏差的水平特征。其中 RPc 表示峰數(shù)量，可反映表面峰的密集程度；RSm 是輪廓元素的平均寬度，能體現(xiàn)輪廓上各元素在水平方向的平均寬度情況。

混合參數(shù)：是間距和幅值參數(shù)的組合。例如 Rmr 為材料支撐比，用于評(píng)估表面在不同高度下的材料分布情況，對(duì)分析零件的耐磨性等性能有重要作用；Rda - R Delta a（算術(shù)平均斜率）則綜合了輪廓的斜率信息，可輔助判斷表面的紋理特征等。